x射線成像檢測系統射線透照常規工藝允許試件有一定的厚度差異，在射線底片上所能顯示的厚度范圍（符合標準規定的黑度上下限值范圍，如1.5~3.5），就稱為RT厚度容度。但若試件厚度差過大，就會透照質量失效，要解決此問題，必須采用一些特殊工藝或技術措施。

試件厚度差異的大小可用試件厚度比來衡量，試件厚度比可定義為一次透照范圍內試件的比較大厚度與比較小厚度之比，用Ks表示。當Ks大于1.4時，可以認為屬于大厚度比試件。實際工作中的大厚度比試件包括余高較高的薄板對接焊縫試件、小口徑管試件、角焊縫試件，以及一些形狀較復雜的機械零件。

大厚度比對射線照相質量的不利影響主要表現在兩個方面：一是因試件厚度差較大導致底片黑度差較大，而底片黑度過低或過高都會影響射線照相靈敏度。二是因試件厚度變化導致散射比增大，產生邊蝕效應。

對大厚度比試件透照的特殊技術措施包括適當提高管電壓技術、雙膠片技術和補償技術。

【適當提高管電壓技術】

適當提高管電壓是透照大厚度比試件比較常采用的，也是比較簡便的方法。

隨著管電壓的提高，底片上不同部位的黑度差將減小，這樣，在規定的黑度范圍內，可以容許更大的試件厚度變化范圍，即提高管電壓可以獲得更大的透照厚度寬容度。此外，對厚度變化的試件透照，提高管電壓可以減小散射比，降低邊蝕效應。但是射線能量提高后，衰減系數μ減小，從未會導致對比度減小，這一點對射線照相靈敏度不利。因此，管電壓不能任意提高，究竟管電壓提高多少比較合適，這是確定具體透照工藝需要研究的問題。

【雙膠片技術】

x射線成像檢測系統對厚度差較大的工件，可以采用在一只暗盒里放兩張膠片同時透照的雙膠片技術。

暗盒里放置的兩張膠片一般應選用感光度不同的兩種膠片（異速雙片法），其中感光度較大的膠片適用于透照厚度較大部位的觀察評定。另一種是在暗盒中放置感光速度相同的兩張膠片（同速雙片），管片方法是對黑度較小部位，將雙片重疊觀察評定，對黑度較大部位，用單片觀察評定。