暗室處理常見缺陷及其成因

1.1偽缺陷

x射線成像檢測系統為缺陷是指由于透照操作或暗室操作不當，或由于膠片、增感屏質量不好，在底片上留下非缺陷影像。常見的有以下幾種：劃痕、壓痕、折痕、水跡、靜電感光、顯影斑紋、顯影液沾染、定影液沾染、增感屏偽缺陷等。只有明確每一種為缺陷的成因才能采取切實妥當的措施來避免其的產生。

劃痕 ：膠片被尖銳物體(指甲、器具尖角、膠片尖角、砂粒等）劃過，在底片上留下的黑線。

壓痕 ：膠片局部受壓會引起局部感光，從而在底片上留下壓痕。

折痕 ：膠片受彎折，會發生減感或增感效應，在底片上產生白色或黑色影響。

水跡 ：由于水質不好或底片干燥處理不當，會在底片上出現水跡。

靜電感光 ：切裝膠片時，因摩擦產生的靜電發生放電現象使膠片感光，在底片上留下黑色影響。

顯影斑紋 ：由于曝光過度，顯影液溫度過高、濃度過大導致快速顯影，或因顯影時攪動不及時，均會造成顯影不均勻，從而產生顯影斑紋。

顯影液沾染 ：顯影操作開始前，膠片沾染了顯影液，沾上顯影液的部位提前顯影，黑度比其他部位大。

定影液沾染 ：顯影操作開始前，膠片沾染了定影液，沾上定影液的部位發生定影作用，使得該部位黑度小于其他部位。

增感屏偽缺陷 ：由于增感屏的損壞或污染使局部增感性能改變而在底片上留下的影響。如增感屏上的裂紋或劃傷會在底片上造成黑色影像，而增感屏上的污物在底片上造成白色影像。

膠片上其他為缺陷還有：工業x射線探傷機因膠片質量不好或暗室處理不當引起的藥膜脫落、網紋、指印、污染等，因膠片保存或使用不當造成的跑光、霉點等。

1.2暗室處理中的底片黑度超標

黑度是底片質量的一個重要指標，為保證底片具有足夠的對比度，黑度不能太小，另一方面受觀片燈亮度的限制，底片黑度又不能過大，黑度過大將造成透過光強不足，導致人眼觀察識別能力下降，影響底片的評定。

黑度過高 ：顯影液溫度過高或顯影時間過長造成底片黑度超過標準要求，或超過觀片燈亮度所能觀察范圍。

黑度過低 ：顯影液溫度過低或顯影時間過短或顯影液活性達不到要求，造成底片黑度低于標準要求值。