無損檢測 X射線數字成像檢測系統特性

1范圍 本標準規定了X射線數字成像系統的設備要求和測定條件以及線性范圍、基本空間分辨率、Z小 許可灰度幅值、對比度靈敏度、厚度寬容度和曝光曲線的測定方法。

本標準適用于金屬材料、非金屬材料、復合材料等制品X射線數字成像檢測設備的性能測定。

2規范性引用文件 下列文件對于本文件的應用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其Z新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。

GB/T12604.11無損檢測術語X射線數字成像檢測 GB/T23901.5無損檢測射線照相底片像質第5部分:雙線型像質計圖像不清晰度的測定 GB/T35388無損檢測X射線數字成像檢測檢測方法 GB/T35389無損檢測X射線數字成像檢測導則 3術語和定義 GB/T12604.11界定的術語和定義適用于本文件。

4符號 表1所列符號適用于本文件。

5設備要求 5.1射線源 5.1.1具有足夠高的能量和功率,以保證射線穿透被測物體后探測器能夠獲得足夠的灰度值。

5.1.2工作參數具有一定的穩定性,避免檢測圖像出現閃爍或明顯的干擾條紋。

5.1.3具有射線焦點尺寸和形狀的測定報告并注明其所按照的相關標準。

5.2探測器 5.2.1探測器模/數(A/D)轉換器的位數應不低于12bit。

5.2.2壞像素的定義和表現形式見附錄A。有關壞像素的規定: a)面陣列探測器中不得存在集群核像素; b)面陣列探測器的成行(成列)壞像素不得超過3個,且不得位于距離中心位置200像素以內; c)采用拼接工藝制造的探測器,拼接間距不得超過一個像素的距離; d)線陣列探測器中,相連的壞像素不準許超過2個; e)所有壞像素之和不得超過探測器總像素的1%。

5.3顯示器 5.3.1圖像顯示器應滿足以下要求: a)像素數目宜與探測器像素數目相匹配,像素尺寸小于0.25mm; b)Z大亮度不低于250cd/m2; c)顯示灰度級不小于8bit; d)顯示對比度不低于500:1。

5.3.2使用測試圖像位測顯示系統的特性開達到相天要求,參見附錄B。

6測試條件 6.1雙線型像質計 采用符合GB/T23901.5規定的雙線型像質計。

6.2階梯試塊 使用附錄C規定的階梯試塊。

6.3濾板 6.3.1選用適當材料和厚度的濾板放置在射線窗出口,減小軟射線對測量結果的影響。

6.3.2濾板材料:鋁板的牌號為6061,銅板的牌號為T2,鋼板的牌號為06Cr19Nil0。

6.4要求 6.4.1射線源與探測器的間距宜控制在700mm~1000mm范圍內。

6.4.2探測器應進行壞像素校正、本底校正和響應不一致性校正。

6.4.3采用多焦點或可變焦點射線源時,應注明使用的實際焦點尺寸。

7線性范圍 7.1測定方法 7.1.1除濾板外,射線機管頭至探測器之間不能放置任何物體。

7.1.2設置探測器幀速并選擇合適的管電壓,測量過程中保持不變。

7.1.3從0mA開始,以0.01mA~0.20mA為增量,調節管電流改變曝光量。

7.1.4使用圖像分析處理軟件測量特定圖像區域的灰度平均值。

7.1.5從Z小曝光量(灰度Z小值)到Z大曝光量(接近滿幅值)的測量點數不少于30。

7.1.6記錄每個測量點的管電流和測定的灰度平均值。